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本期要为大家推介的是一家拥有中国科学院背景
深耕材料和半导体领域的研发、检测与技术解决方案
已为高校和企业客户解决5000多次研发检测需求
拥有350+核心专家团队的国家高新技术企业——

       米格实验室是一个基于互联网+，面向实体企业、面向材料和半导体领域研发、检测与技术解决方案的服务平台，在电镜检测技术、聚焦离子束技术、（光、质、色、波）谱分析、成分分析、可靠性与失效分析等方面优势突出，形成了自身特有的一套技术矩阵体系，为近千家用户解决了产品研发方面的问题。

       公司以新材料和半导体芯片行业为重点发展领域，与国内的研发团队合作，针对产业的需求定制研发解决方案，逐步形成自有的技术服务体系，实现科技知识成果与产业需求之间的无缝转化。

       目前合作实验室已达350家，包括中科院半导体所、中科院物理所、中科院微电子所、北京有色院、中国航发、清华、北大、中电58所及子公司、航天9院、中船725所、工信部CSIP、海军701研究所、国家电网等。

本期米格实验室还带来了全新升级的新“神器”——
聚焦离子束-电子束双束系统FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam
创新的工作流模式，将更大程度地降低操作员的难度
真正实现“让科研更简单”的战略理念
究竟有多厉害？赶快了解一下吧~

聚焦离子束-电子束双束系统FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam

设备简介

       FEI Scios 2 DualBeam系统在Scios系统的基础上进行了升级，更加适用于金属、复合材料和涂层，特点是适用磁性样品、借助漂移抑制对不导电的样品可以进行操作、Trinity检测套件可同步检测材料、形态和边缘对比对度，大大提高效率、软件可以实现三维数据立方体分析金属中夹杂物大小和分布、独有的工作流模式，可以设定程序，降低操作员的难度。在超大样品仓中集成了大尺寸的五轴电动样品台，XY轴具有110mm移动范围，Z方向具有85mm升降空间。

技术指标

1.电子束电流范围：1 pA - 400 nA；
2.电子束电压：200eV-30 keV，具有减速模式
3.电子束分辨率：0.7 nm (30 keV)、1.4 nm(1 keV)
4.大束流Sidewinder离子镜筒；
5.离子束加速电压500V-30kV（分辨率：3.0 nm）；
6.离子束束流1.5pA-65nA，15孔光阑。

配置情况

1.GIS气体注入：Pt沉积；
2.Easylift纳米机械手（精度<500nm）；
3.ETD SE、T1（筒内低位）、T（高位）探头；
4.Nav-camTM：样品室内光学导航相机；
5.AutoTEM4、Autoslice、Map for3D自动拼图、NanoBuilder纳米加工软件。

适用样品

       半导体、金属、陶瓷材料截面加工及透射样品制备。

预约&收费标准
       FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam 已在无忧微测正式上线，感兴趣的朋友可以点击链接，查看更多关于仪器设备租用详情。

点击链接：FIB-SEM FEI Scios 2 DualBeam