聚焦离子束系统FIB-SEM_Helios
检测周期:
未定
检测方式:
其他
报告类型:
电子文档
检测单项:
SEM-FIB加工(机时数<20小时)
SEM-FIB加工(机时数30小时)
SEM-FIB加工(机时数50小时)
TEM制样(样品数<10pcs)
TEM制样(样品数=10pcs)
TEM制样(样品数=20pcs)