球差校正透射电镜
检测周期:
未定
检测方式:
其他
报告类型:
电子文档
检测单项:
球差电镜(机时数<10小时)
球差电镜(机时数10小时)
球差电镜(机时数20小时)
球差电镜(机时数50小时)
技术指标:
1.60 kV - 300 kV
2.≤100pm@300kV(TEM)
3.≤60pm@300kV(STEM)(聚光镜校正)
4.电压范围:80kV\200kV\300kV
5.可选的“最高产量”或“最干净”的 EDX 提供满足任何表征需求的解决方案
6.增强的可用性和成像灵活性,让可成像的样品范围更广泛
配置情况:
1.CCD,利用 4k x 4k Ceta 16M 瞬时缩放镜头,以最快的速度从介观长度尺度导航至原子长度尺度
2.STEM、Super EDS系统
擅长样品:
石墨烯等二维材料、纳米材料及半导体样品
技术指标:
1.60 kV - 300 kV
2.≤100pm@300kV(TEM)
3.≤60pm@300kV(STEM)(聚光镜校正)
4.电压范围:80kV\200kV\300kV
5.可选的“最高产量”或“最干净”的 EDX 提供满足任何表征需求的解决方案
6.增强的可用性和成像灵活性,让可成像的样品范围更广泛
配置情况:
1.CCD,利用 4k x 4k Ceta 16M 瞬时缩放镜头,以最快的速度从介观长度尺度导航至原子长度尺度
2.STEM、Super EDS系统
擅长样品:
石墨烯等二维材料、纳米材料及半导体样品